X射线荧光分析的特长、原理

      使用X射线直接照射试样，测定由此产生的2次X射线（X射线荧光）的能量强度。法可无须破坏样品进行样品定性分析和定量分析。与其他分析方法相比，前处理简单，可快速分析，这是X射线荧光分析的一大特长。

       虽然在波长（能量）分辨率、轻元素的灵敏度、精度上不如波长色散型，但在价格、操作性、前处理的简单便性上具有优势。因此，非常适于进货检查、生产现场的筛选分析和次品解析。